電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法：《試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊》

  （電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊)本試驗(yàn)的目的是用來揭露機(jī)械弱點(diǎn)和（或）性能下降情況，并且利用這些資料，結(jié)合有關(guān)規(guī)范，來解決樣品是否可以接收。在某些情總下，本沖擊試驗(yàn)也可以用來確定樣品的結(jié)構(gòu)完好性，或作為質(zhì)量控制的手段。

   進(jìn)行沖擊和碰撞試驗(yàn)時(shí)，是將樣品固定在試驗(yàn)臺(tái)上的。而進(jìn)行傾跌與翻倒、自由跌落重復(fù)自由跌落和彈跳試驗(yàn)時(shí)，樣品是不固定的。

   冷熱沖擊試驗(yàn)箱是我們公司的主打產(chǎn)品，按照國(guó)家技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，研發(fā)的。所以需要的客戶可致電咨詢。