可程式恒溫恒濕試驗箱芯片自動測試

可程式恒溫恒濕試驗箱芯片自動測試  用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元氣件在高溫或濕熱環境下檢驗

本產品滿足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.3-1993 GB/T2423.2-2001等國家標準，以及其它相關標準的要求。

 可程式恒溫恒濕試驗箱芯片自動測試 

觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且采用雙層玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。設有獨立限溫報警系統，超過限制溫度即自動中斷，保證實驗安全運行不發生意外。

1、同容積在承受較大存放區域和負載發熱量

2、采用美國新型PWM冷媒控制技術實現低溫節能運行

3、防止測試品不結露控制條件

4、通信配置RS232接口和USB儲存下載功能

5、機臺多重報警監測，配置無線遠程報警功能

6、的水路系統和再生用水環循系統

7、濕度效應可以達到15℃/5%RH效能，除濕速度快

8、防止靜電降耗能力強，達到同行業中性能狀態

 控制方式：制冷壓縮機啟停控制溫度（溫度波動大、嚴重影響壓縮機壽命，已淘汰的技術）制冷壓縮機恒定運行+加熱PID控制（導致制冷量與加熱相抵消實現溫度動態平衡，浪費了大量的電能）新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行：低溫工作狀態，加熱器不參與工作，通過PWM技術控制調節制冷機組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調節，實現對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實現降低40%的能耗。