芯片高低溫交替測試箱

 芯片高低溫交替測試箱

常溫ß----->150℃   約35分鐘（非線性空載，約3.5℃/分鐘）

常溫ß----->-20℃   約38分鐘（非線性空載，約1.0℃/分鐘）

 型號：SMB-150PF

  工作室尺寸: 500*600*500mm     （W×H×D）

  外箱尺寸（約）: 750*1224*1615 mm     （W×H×D）

 溫度:-20℃～150℃    

 濕度:20%～98%RH     

芯片高低溫交替測試箱

規格:

• 顯示器:256X128點、30行X40字的LCD液晶顯示熒屏
• 精度:溫度±0.1℃＋1digit 、濕度±1%RH＋1digit
• 分辨率:溫度±0.1,濕度±0.1%R.H.
• 溫度斜率:0.1～9.9可設定
• 溫濕度入力信號:PT100Ω×2（干球及濕球）
• 溫度變換出力:-100～200℃相對于1～2V
• 濕度變換出力: 0～100%RH相對于0～1V 
• P.I.D控制出力:溫度1組、濕度1組
• 電源:AC85V～264V
• 資料記憶保存EEPROM(可保存10年以上)
• 

部件配置清單

裝箱配件:

1．測試箱內設有高度可調之軌道架4條.

2   2.不銹鋼條制作置物架2個.

3   3.標準測試用不織布10片

4   4.說明書,控溫儀表說明書各1份.

    5.*書    交貨時提供一份.

6.訂貨規格書    訂貨時提供一份.

7.使用說明書    交貨時提供一份.